지능형소켓테스터

중성선-접지의 역접속이 문제가 되는 이유는 무엇인가?
N-E 역접속의 오류를 깨닫지 못한 상태에서 소켓 콘센트를 사용하면, 상단의 RCD(누전 차단기)가 트립되어 전원이 차단됩니다.
그러나, 회로가 RCD로 보호되지 않으면 접지 도체에 큰 부하 전류가 흘러 감전 및 화재 위험이 발생합니다.
멀티미터에 의한 판정
멀티미터로 측정할 경우, N과 E를 반대로 접속하더라도, 전압은 올바로 접속했을때와 동일하므로, 오배선을 찾을 수가 없습니다.
 
지능형 소켓 테스터인 KEW4506은 이러한 문제를 해결할 수 있습니다.
측정 원리 
TT 계통의 경우

TT 접지 계통에서 회로가 정격 감도 전류 30mA 이상의 RCD로 보호되는 경우,
KEW 4506 단독으로 N-E 역접속을 검출할 수 있습니다.
이 경우, N-E 배선이 올바른지 확인하기 위해 KEW 4506은 L-N 간의 저항값과 L-E 간의 저항값을 각각 측정합니다.
일반적으로 TT 계통에서 L-N 간의 저항값은 주로 배선 도체 저항으로 인한 것입니다.
반면에 L-E간의 저항값에는 설비의 접지 저항(REl 및 RE2)도 포함되므로 L-E간의 저항값은 L-N간의 저항값보다
높습니다.



RL+RN < RL +(RE1+RE2)
KEW 4506은 이러한 저항값의 차이를 확인하여 N-E 역접속을 검출합니다.
따라서, L-E간의 저항값이 극도로 낮은 경우에는 N-E 역접속을 검줄하지 못하는 경우도 있습니다.
또한, 저항값을 측정하는 데 약 10mA의 테스트 전류가 사용되기 때문에 정격 감도 전류 10mA의 RCD가 트립될 수 있습니다.
위와 같은 경우에는 KEW 4506과 KEW 8343(시그널 소스)을 조합하여 사용하는 것을 권장합니다.
극도로 낮은 L-E간의 저항값의 영향을 받지 않으며, N-E 간에 흐르는 데스트 전류가 1µA 미만이므로 어떠한 RCD도 트립하지 않고 측정할 수 있습니다

 
TN 계통의 경우



TN 접지, 구조체 접지 및 공통 접지 계통과 같이 저항이 낮은 통합 접지 계통을 테스트할 경우,
테스트할 3P 콘센트가 배선된 분기 차단기로부터 가까운 위치에 KEW 8343을 접속하고 테스트 전압을
인가하여 주십시오.
N-E 역접속은 KEW 8343의 테스트 전압을 중성선에 인가하고 신호의 방향을 검사하여 검출할 수 있습니다.
*KEW 4506 및 KEW 8343은 TN-C 또는 IT 계통에서는 사용할 수 없습니다.
*시그널 소스 KEW 8343은 별매입니다.



모든 측정 결과 및 합격/불합격을 한 화면에 명확히 표시

콘센트에 플러그를 꽂고, 측정 버튼을 누르면 간단하게 측정할 수 있습니다.

어두운 장소에서는 LCD 백라이트가 자동으로 점등합니다. *백라이트 기능은 OFF할 수 있습니다.

 
 
사용 위치 및 제한 사항

KEW 4506은 단상 2선식. 단상 3선식, 3상 4선식 전원 계통에서 배선된 단상 소켓 콘센트의 N-E 역접속을 포함한 배선 상태를 테스트할 수 있습니다.
*KEW 4506은 3상 소켓 콘센트 검사 및 RCD 테스트에는 사용할 수 없습니다.



일반 TN 계통 회로에서 사용할 경우, KEW 8343이 클램프한 중성선의 위지보다 후단에 접속된 소켓 콘센트에서만 N-E 역접속을 확인할 수 있습니다.
링 회로의 소켓 콘센트를 검사할 경우, KEW 8343은 반드시 링 회로에 공급되는 중성선보다 전단에 접속해야 합니다.